IS积分球 发布时间：2026-09-17
1.图片展示
型号：CAS-140CT
Instrument Systems 的高端 CAS 140CT 阵列光谱仪被视为高精度光谱光测量技术的基准仪器，适用范围涵盖低到高辐射度光源。
该产品基于久经考验的交叉 Czerny-Turner 光谱仪，并配备具有冷却性能的 CCD 探测器，具有以下特长:
最高的测量准确度和杂散光抑制
再现性和稳定性
极短的积分时间
CAS 140CT 的应用领域从作为国家校准实验室的标准仪器，到24/7的产线检测仪器。此外，Instrument Systems 所有的光谱仪都有可追溯至 PTB 和 NIST 的校准。
与广泛的配件搭配组合，可以将光谱仪升级为一体化系统，适用于各种光谱辐射和光度测量任务。
在校准过程中使用杂散光校正矩阵运算（可选），可进一步降低 CAS 140CT 原本就极其出色的杂散光值。因此，该测量仪器也非常适合 UV-LED 的精准测量和 LED 光源危害等级（光生物安全）的测定。
2.适用样品
LED灯珠
LED模块
单颗红外LED
单颗红外VCSEL
直径小于2cm的红外模块
3.依据标准
GB/T7922照明光源颜色的测量方法
GB/T5702-2003光源显色性评价方法
GB/T24824-2009普通照明用LED模块测量方法
GB/T24823-2009普通照明用LED模块性能要求
SJ/T11394-2009半导体发光二极管测试方法
QB/T4057-2010普通照明用发光二极管性能要求
SJ/T 2658.1 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则
SJ/T 2658.2 半导体红外发射二极管测量方法 第2部分:正向电压
SJ/T 2658.3 半导体红外发射二极管测量方法 第3部分:反向电压和反向电流
SJ/T 2658.6 半导体红外发射二极管测量方法 第6部分:辐射功率
SJ/T 2658.7 半导体红外发射二极管测量方法 第7部分:辐射通量
SJ/T 2658.12 半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽
SJ/T 2658.16半导体红外发射二极管测量方法 第16部分:光电转换效率
4.电参数测量
电流输出：1～7A
正向电压输出：1～100V
反向电压输出： 10V max
反向漏电流测量范围：0.1～100μA
（DC/脉冲）电流输出范围：0.1mA～10000mA
（DC/脉冲）电压输出范围：0.1V～100V
脉冲宽度设置范围：100μs～30ms
金鉴实验室在电参数测量方面具备深厚的技术积累和丰富的实践经验。我们拥有专业的测试设备和严谨的测试流程，能够针对不同类型的产品，精确测量这些电参数。
5.光参数测量
波长范围：300nm～1100nm
光谱测量分辨率：3.7nm
6.检测项目
7.应用实例
LIV特性曲线
峰值辐射通量-温度曲线
半波宽-温度曲线
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