EL电致发光（EL） 发布时间：2025-12-31
一、设备概述
EL（Electroluminescence）电致发光测试系统是一种通过电流激发样品发光，从而检测缺陷、评估材料质量和工艺可靠性的高精度设备。广泛应用于LED芯片、Mini/Micro LED、激光芯片、太阳能电池、半导体器件等领域的失效分析、缺陷定位与性能评估。金鉴实验室作为专注于光电半导体分析测试的公共服务平台，能够进行严格的电致发光测试，致力于为客户提供高质量的测试服务。
二、工作原理
1. 电致发光现象：
当样品（如LED芯片或太阳能电池）被施加正向电压时，电子与空穴复合释放能量，产生近红外/可见光。通过高灵敏度相机捕获发光图像，可非破坏性地识别裂纹、隐裂、黑点、短路、漏电等缺陷。
2. 检测流程：
加压→激发发光→光学成像→软件分析→缺陷定位。
金鉴实验室在进行试验时，严格遵循相关标准操作，确保每一个测试环节都精准无误地符合标准要求。
三、设备组成
功能描述
精密电源0-20V/0-1A可调，μA级分辨率，支持脉冲/恒流/恒压模式，避免样品过热。
暗箱全封闭遮光结构，内部哑光黑涂层，避免环境光干扰；可集成温控台（25℃~200℃）,温度稳定性±0.1℃（温控台）。成像系统拥有高灵敏度CCD相机（分辨率640×595，量子效率≥90%），测试相对光强0cnts~4080cnts；配光学镜头（0.5×~50×），分辨率可达1um。软件分析实时图像拼接、缺陷自动计数、亮度均匀性分析（CV值）、3D发光强度Mapping、报告一键导出。 金鉴实验室拥有专业的电致发光测试设备和技术团队，能够确保电致发光测试的准确性和可靠性，如需专业检测服务可联系金鉴检测顾问181-4899-0106。
电致发光设备
四、应用场景
1. LED芯片：
- 检测电极短路、ESD损伤、外延层缺陷。
- 评估亮度均匀性（如Mini LED的COB模组）。
2. 太阳能电池：
- 定位隐裂、断栅、PID（电势诱导衰减）。
- 对比封装前后的缺陷变化。
3. 半导体器件：
- 分析GaN HEMT器件的漏电通道。
金鉴实验室在电致发光测试方面具有丰富的经验，实验室拥有一支由国家重大人才工程专家领衔和行业资深技术专家组成的团队，能够针对LED芯片、电池、半导体器件等提供具体的解决方案，确保产品在各种使用环境下的可靠性和安全性。
五、优势特点
非破坏性：无需拆解样品，保留原始状态。
高灵敏度：可检测μm级裂纹或nA级漏电。
定量分析：亮度均匀性CV值、缺陷密度自动统计。
六、测试案例
激光器样品图
激光器电致发光测试数据
激光器的光束形貌为一字线型，使用电致放光检测发现一字形光束边缘光强约为中心光强的60%。金鉴实验室的专业服务不仅限于测试和认证，还包括失效分析、技术咨询和人才培养，为客户提供一站式的解决方案，金鉴将继续秉承着专业的服务态度，不断提升自身的技术水平和服务质量，为材料检测行业贡献我们的力量。
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