四探针电阻率测量仪 发布时间：2025-03-07 15:26:56
金鉴实验室作为一家提供检测、鉴定、认证和研发服务的第三方检测与分析机构，拥有丰富的经验和先进的技术，可以为客户提供专业的电阻率测试，帮助客户深入了解产品性能。
1.仪器名称
四探针电阻率测量仪
2.图片展示
3.适用样品
（1）最大尺寸10x10cm
（2）半导体材料、太阳能电池材料(硅、多晶硅、碳化硅等)，新材料、功能材料(碳纳米管、DLC、石墨烯、Ag纳米线等)。
（3）导电薄膜(金属、离子等)，扩散层，硅相关外延材料，离子注入样品。
金鉴实验室的专业团队可以根据客户的需求，提供定制化的测试方案，确保测试结果的高精度和高一致性。
4.测量范围
电阻: 1.0m - 3.0M Ω
方块电阻（厚度：0.01~9999.99um）: 5.0m - 10.0M Ω/sq
电阻率: 1.0μ - 300.0k Ω.cm
5.依据标准
ASTM F1529-02采用双配置程序的直列四点探针评估薄板电阻均匀性的标准试验方法
ASTM F84-2002 用四点探针测量硅片电阻率的标准试验方法
ASTM F374-00a 使用单配置程序的直列四点探针对硅外延、扩散、多晶硅和离子注入层的薄层电阻的标准试验方法
ASTM F390-11 用共线四探针阵列测定金属薄膜薄层电阻的标准试验方法
JIS-H-0602-1990-用四点探针测试硅晶体和硅片电阻率的方法
JIS-K-7194-1994 用四点探针阵列测试导电塑料电阻率的方法
金鉴实验室严格按照这些标准进行测试，确保每一项检测都符合国际规范，为客户提供权威的测试报告，助力科研和产品开发。
6.检测项目
通过专业的测试，金鉴实验室能够为客户提供详尽的检测报告，帮助其更好地理解产品的性能，确保产品在市场上的竞争力。
7.应用实例
测试探针
方块电阻测试结果
在金鉴实验室，我们的测试原理经过多次验证，确保测试的科学性和准确性。我们的专业团队会根据每个客户的需求，提供个性化的测试方案，确保每一项测试都能满足实际应用的需求。我们致力于为客户提供全面的技术支持，助力产品的持续改进与创新。
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