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LM-80老化测试系统 发布时间:2016-02-15 18:01:09

一、设备型号:

LM-80老化测试系统 UFS-8036C


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二、设备特点:

本设备是根据 IES LM-80 标准,针对 LED 测试中的老化测试项目而研发的一款专用机台,具有 Ts Ta 双路温度独立控制,测试区湿度控制等功能,单一区间内多路模组独立控制,半导体电制冷恒温,双向PID 功率调节输出,并可无缝配合积分球测试的全新一代老化测试系统。


1、单一箱体内 6 组阵列模块,每组模块有独立 Ts 控制端,共用 Ta 控制端,单个模组额定功率负载为200W,单个模块支持 30 个工位,单程箱体可支持 180 个小功率灯珠老化。


2、测试模块采用快接方式安装,组合形式灵活,更换快速,灯珠封装表面温度可维持指定温度操作,如55℃±2℃;85℃±2℃;110℃±2℃;其中 55℃±2℃温度点只适用于单层模组满负载 100W 以下。


3、可更换式治具盘,适用与各种产品。


4、箱内采用黑体结构,充分吸收散射光源,防止光重叠及热量叠加。


5、三层独立箱体结构,可同时满足三组不同温度测试。


三、主要技术参数:

设备尺寸:1250mm×1810mm×1000mm (W×H×D) 温度范围:常温+5℃~150℃

温度波动度:≤±0.5℃ 温度均匀度:±1.5℃ 

温度解析精度:0.01℃ 温度控制精度:±0.3℃

Ts 的实际温度控制在设定温度-2℃~0℃ 之内

环境湿度:≤65%

环境温度:Ta≥Ts-5℃,距离在测样品 1.5mm 的空气温度

单个模组可放置 30 颗焊在六角形铝基板(如右图)的 case 同时老化


四、使用产业

LED封装照明行业





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