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近场光学测试设备(SIG-400)发布时间:2016-02-15 13:34:38

一.设备简介:

近场光学测试设备SIG-400可从多角度拍摄光源影像,建立一个光源亮度和色度输出的三维空间图像。在LED测量方面,近场光学测试设备SIG-400支持纵向和横向测试,适应几乎所有常见的光源,可采集和整理LED光源或相似的小面积光源的多角度亮度及色度值,精准的刻划出实际的光效率。汇总并进一步做光效率的分析和光学设计中射线的配置。SIG-400 是对LED 光源的优化测量系统,可减少系统的体积及降低成本,并简化测量的工序。SIG-400 在测量整个待测件的时,能够精准的定位到待测件的中心点,经测试后误差不超过15 微米。


近场光学测试设备SIG400

二.应用范围:

芯片产品的发光均匀度分析

芯片产品的来料检测

封装产品的发光均匀度分析

封装产品的失效分析(色差方向)

封装产品的来料检测

光源产品不同角度的光色参数

芯片及封装产品的寿命评估


三.设备功能及特点:

测量LED或是小面积光源所有角度近场光强度分布

测量LED或是小面积光源近场色度分布

提供光学设计与原型测试的近场模型(适用多款软件)

LED芯片、颗粒及组件的优化测量系统

多样光学结构配置强化视野范围及分辨率

 

四.详细参数:


量测功能

亮度、光强度、颜色、相关色温、CIEx,y、u',v'、△E

 
 

控制软件

自动位移及影像采集控制

 

实时影像

 

屏幕录像播放

 

灰阶与色彩显示

 

记录环境影像提供校正

 

屏幕光标校正功能

 

分析图表

亮度横截面图

 

烛光横截面图

 

亮度3D表面绘图

 

亮度等量绘图

 

光强度角度分布图表

 

多影像及图表显示

 

分辨率

512×512像素

 

标准视场(mm)

2,4,7,12,25 and 50

 

颜色测量

符合CIE 1931 的XYZ滤镜

 

操作空间

70cm×127cm

 

极角

0 to 360°

 

方位角

0 to 180°

 

角度位移量

最小 0.1°

 


五.应用实例:

芯片垂直方向发光均匀度测试实例


LED芯片垂直方向发光均匀度



特定截面光强分布图

LED特定截面光强分布图

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