服务设备
- 材料分析
- 透射电镜(TEM)
- 聚焦离子束显微镜 (FIB-SEM)
- 扫描电镜(SEM)
- X射线能谱仪(EDS)
- X射线透视(2D X-ray)
- 氩离子抛光切割机/CP离子研磨截面抛光仪
- 超声波扫描显微镜(C-SAM)
- 微光显微镜（EMMI/OBIRCH）
- 差示扫描量热仪(DSC)
- 热重分析仪(TGA)
- 热机械分析仪(TMA)
- 热阻热瞬态测试仪(T3ster)
- 金相显微镜
- 导热系数测试仪
- 离子色谱仪(IC)
- 显微红外光谱仪(Miro-FTIR)
- 红外热重分析系统(FTIR-TGA)
- 荧光粉激发光谱特性和热猝灭分析系统
- 气相质谱（GCMS）
- 显微热分布测试系统
- 显微光分布测试系统
- 显微红外热点定位测试系统
- 凝胶渗透色谱（GPC）
- 电感耦合等离子体原子发射光谱仪（ICP-AES /ICP-OES）
- 绝对量子产率测试仪
- 可靠性测试
- 光学分析
- 电学分析
联系我们
广东金鉴实验室科技有限公司
专家团队：
1.LED芯片失效、配方分析、紫外灭菌,邱工：18816786100
2.LED失效、芯片鉴定、FIB、TEM、氩离子抛光,邵工：18814096302
3.LED灯珠失效、LED灯具失效、可靠性,张工：13928762392
4.成分分析、电镀、FIB、金鉴自研发设备,周工：18811843699,罗工：18802036015
5.镀层检测、电镀、吴工：13503029163
邮政编码 ：511340
微信订阅号：ledqalab
电子邮箱：sales@gmatg.com
全国服务热线：400-006-6368
材料分析您当前的位置： 首页 > 服务设备 > 材料分析
材料分析
材料分析
材料分析 :
透射电镜(TEM) 聚焦离子束显微镜 (FIB-SEM) 扫描电镜(SEM) X射线能谱仪(EDS)X射线透视(2D X-ray)氩离子抛光切割机/CP离子研磨截面抛光仪超声波扫描显微镜(C-SAM)微光显微镜（EMMI/OBIRCH）差示扫描量热仪(DSC)热重分析仪(TGA)热机械分析仪(TMA)热阻热瞬态测试仪(T3ster)金相显微镜导热系数测试仪离子色谱仪(IC)显微红外光谱仪(Miro-FTIR)红外热重分析系统(FTIR-TGA)荧光粉激发光谱特性和热猝灭分析系统气相质谱（GCMS）显微热分布测试系统显微光分布测试系统显微红外热点定位测试系统凝胶渗透色谱（GPC）电感耦合等离子体原子发射光谱仪（ICP-AES /ICP-OES）绝对量子产率测试仪
| 设备 | 型号 |
|---|---|
| SEM扫描电镜 | Hitachi 3400N |
| X射线能谱仪EDS | Horiba 7021-H |
| SEM制样 | Hitachi E-1010, 蔚仪MP-2B |
| X-RAY X射线透视机 | Dage 6600 |
| 氩离子抛光/切割 | Gatan 693 |
| 激光扫描显微仪 | BANES 1640 |
| 切片分析 | WY-101 |
| TEM透射电镜 | JEOL-2100F |
| TEM制样 | Gatan 691 |
| SIMS二次离子质谱 | Cameca 6f |
| FIB聚焦离子束显微镜 | Zeiss Auriga Compact |
| AFM原子力显微镜 | Veeco Digital Instruments Dimension 3100 |
| IR红外热像 | FTIL T600 |
| 立体显微镜 | WY-101 |
| 金相分析 | Zeiss Axio Lab.A1 MAT |
| C-SAM超声波扫描 | Sono Scan D6000 |
XRF X 荧光光谱分析仪 | |
| 可见分光光度计 | SP-723PC |
| 热阻及导热系数测试设备 | LW-9389 |
