IS光谱测试仪 发布时间：2025-03-21 14:05:27
CAS 140CT是Instrument Systems公司最新的高端阵列光谱仪，该产品线在全球取得了非凡的成功。准确，稳健和可靠，该仪器提供了无与伦比的属性组合。金鉴实验室作为行业内领先的测试机构，致力于为客户提供高质量的光谱测试服务。
CAS 140CT能够进行非常精确的测量，即使在恶劣的制造环境中连续使用，也非常稳定耐用。所有这些独特的性能使该光谱仪成为许多应用的首选，从生产测试到国家实验室的参考测量。可以测量非常低和非常高的光强度，而不需要手动调整测量设置。它对快门和密度滤光轮的位置识别方法使光谱仪在机械上更加可靠。此功能对于生产测试中的关键测量任务和坚固应用特别有价值。
光纤连接器快速方便地将光谱仪连接到各种测量适配器，创建一个交钥匙系统，非常适合最多样化的光谱辐射和光度测量任务。出厂时配备USB接口，CAS 140CT可与任何笔记本电脑操作。可选的PCI接口提供了扩展的触发可能性。光学和机械设计的创新CAS 140CT的核心是一个优化的交叉切尔尼-特纳光谱仪，具有高效的杂散光抑制和宽动态范围。集成密度滤光轮将强度测量范围扩展到9个数量级。因此，基于优化的交叉切尔尼-特纳光谱仪的CAS 140CT仪器光学设计。
1.图片展示
2.适用样品
LED灯珠
LED模块
单颗红外LED
单颗红外VCSEL
直径小于2cm的红外模块
金鉴实验室专业团队将利用先进的测试设备，确保每个样品的光电性能达到行业标准，为客户提供详尽的测试报告。
3.依据标准
GB/T7922照明光源颜色的测量方法
GB/T5702-2003光源显色性评价方法
GB/T24824-2009普通照明用LED模块测量方法
GB/T24823-2009普通照明用LED模块性能要求
SJ/T11394-2009半导体发光二极管测试方法
QB/T4057-2010普通照明用发光二极管性能要求
SJ/T 2658.1 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则
SJ/T 2658.2 半导体红外发射二极管测量方法 第2部分:正向电压
SJ/T 2658.3 半导体红外发射二极管测量方法 第3部分:反向电压和反向电流
SJ/T 2658.6 半导体红外发射二极管测量方法 第6部分:辐射功率
SJ/T 2658.7 半导体红外发射二极管测量方法 第7部分:辐射通量
SJ/T 2658.12 半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽
SJ/T 2658.16半导体红外发射二极管测量方法 第16部分:光电转换效率
金鉴实验室严格遵循国家标准，如SJ/T 2658系列测量方法。这些标准涵盖了正向电压、反向电压、辐射功率等多个方面，确保测试结果的权威性与准确性。
4.电参数测量
电流输出：1～7A
正向电压输出：1～100V
反向电压输出： 10V max
反向漏电流测量范围：0.1～100μA
（DC/脉冲）电流输出范围：0.1mA～10000mA
（DC/脉冲）电压输出范围：0.1V～100V
脉冲宽度设置范围：100μs～30ms
金鉴实验室在电参数测量方面具备深厚的技术积累和丰富的实践经验。我们拥有专业的测试设备和严谨的测试流程，能够针对不同类型的产品，精确测量这些电参数。
5.光参数测量
波长范围：300nm～1100nm
光谱测量分辨率：3.7nm
6.检测项目
7.应用实例
LIV特性曲线
峰值辐射通量-温度曲线
半波宽-温度曲线
金鉴实验室作为一家专注于光电半导体失效分析的科研检测机构，实验室配备了先进的测试设备和严格的质量控制流程。金鉴实验室的团队由国家级人才工程入选者和行业资深管理和技术专家组成，他们在光电半导体材料和器件工厂有着丰富的工作经验，能够提供从产品研发设计到质量评估、可靠性验证的一站式解决方案。
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