高频数字电桥 发布时间：2024-10-25 14:56:45
在电子元件测试领域，高频数字电桥 HIOKI 3535 以其出色的性能为众多企业提供了可靠的测试手段。然而，为了确保测试结果的准确性和可靠性，专业的实验室测试服务不可或缺。金鉴实验室作为国内领先的光电半导体失效分析科研检测机构，能够提供各类电子元件的测试分析，其在与 HIOKI 3535 等先进测试设备的配合使用方面积累了丰富的经验，能够为企业提供全面、精准的测试服务，助力企业在电子元件品质把控上达到更高水平。
1. 设备型号
LCR测试仪 HIOKI 3535
2. 图片展示
图 1 LCR 测试仪 HIOKI 3535
3. 功能介绍
LCR测试仪3535测试|Z|, L, C, R
测试源频率100kHz～120MHz
高速测量: 6ms
拆卸式前置放大器可选择
为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能
3535LCR测试仪通过I/O接口可从外部控制触发、键盘锁开/关、以及测量条件的装载。而且比较结果、测量完成等可以输出，可应用于自动化生产线。
金鉴实验室作为国内领先的光电半导体失效分析科研检测机构，实验室拥有一支由国家级人才工程入选者和资深技术专家组成的团队，以及先进的检测设备，确保了测试结果的准确性和可靠性。
4. 执行标准
IEEE STD 488.1-2003
5. 适用样品
金鉴实验室提供全面的材料测试服务：
可测试0402、0603及0805封装的贴片电感、电容、电阻。金鉴实验室具备专业团队和先进的测试设备能够满足您在电子元件测试方面的各种需求。
6. 设备技术参数
图 2 HIOKI 3535测试仪技术参数
7. 应用分析案例
金鉴实验室不仅能够提供标准的测试服务，还能根据客户需求，依据不同封装和类型元件的特点，制定个性化的测试方案。
测试容值为6.8pF封装为0805的电容。
图 3 测试电容
金鉴实验室致力于为电子元件行业提供高质量的测试服务，推动行业技术的不断进步。相信在未来的发展中，金鉴实验室将为企业提供更加优质、高效的测试服务，助力电子元件产业迈向更高的质量水平。
