广东金鉴实验室科技有限公司
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透射电镜(TEM)聚焦离子双束显微镜(FIB-SEM)场发射电镜(FESEM)钨灯丝电镜电子背散射衍射(EBSD)超景深显微镜原子力显微镜(AFM)显微红外光谱仪(Micro FTIR)金相显微镜微光显微镜(EMMI)X光检查仪超声波扫描显微镜(SAM)X射线能谱仪(EDS)
设备 | 型号 |
---|---|
SEM扫描电镜 | Hitachi 3400N |
X射线能谱仪EDS | Horiba 7021-H |
SEM制样 | Hitachi E-1010, 蔚仪MP-2B |
X-RAY X射线透视机 | Dage 6600 |
氩离子抛光/切割 | Gatan 693 |
激光扫描显微仪 | BANES 1640 |
切片分析 | WY-101 |
TEM透射电镜 | JEOL-2100F |
TEM制样 | Gatan 691 |
SIMS二次离子质谱 | Cameca 6f |
FIB聚焦离子束显微镜 | Zeiss Auriga Compact |
AFM原子力显微镜 | Bruker(原veeco) Dimension Edge |
IR红外热像 | FTIL T600 |
立体显微镜 | WY-101 |
金相分析 | Zeiss Axio Lab.A1 MAT |
C-SAM超声波扫描 | Sono Scan D6000 |
XRF X荧光光谱分析仪 | |
可见分光光度计 | SP-723PC |
热阻及导热系数测试设备 | LW-9389 |