光耦参数测试仪 发布时间：2025-01-09 11:21:34
在金鉴实验室，我们严格遵循国家标准，提供专业的光耦参数测试服务，确保每一项测试结果的准确性与可靠性。我们的测试团队拥有丰富的经验，能够为客户提供全面的技术支持。
1.图片展示
2.依据标准
SJ/T 2215 半导体光电耦合器测试方法
GB/T 15651.5 半导体器件 第5-5部分：光电子器件 光电耦合器
在金鉴实验室，我们严格遵循国家标准，提供专业的光耦参数测试服务，确保每一项测试结果的准确性与可靠性。我们的测试团队拥有丰富的经验，能够为客户提供全面的技术支持。
3.适用样品
光耦（晶体管输出型、可控硅输出型、MOS输出型、逻辑输出型、 栅极驱动型）
4.送样须知
提供样品规格书或具体参数的测量条件
可定制测试治具，适用多种封装类型以及引脚数量，详情可咨询我司检测顾问。金鉴实验室的团队随时准备为您解答疑问并提供专业建议。
5.测量范围
电压最高支持 DC 2000 V
电流最大支持 DC 200 A
栅极控制最大支持 40 V / 100 mA
6.检测项目
金鉴实验室能够针对多种光耦类型提供定制化的测试方案，确保符合客户的具体需求。无论是晶体管输出型还是可控硅输出型，我们的专业设备和技术团队都能提供精准的测试服务。
（1）光耦——晶体管输出型
（2）光耦——可控硅输出型
（3）光耦——MOS输出型
（4）光耦——逻辑输出型、 栅极驱动型
7.应用实例
金鉴实验室凭借专业的技术团队和先进的测试设备，能够为各类光耦产品提供全面的测试服务，确保每一项参数的准确性与可靠性。
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