CAF/SIR测试系统 发布时间：2024-12-12 11:42:17
金鉴实验室凭借其先进的设备和专业的技术团队，能够为客户提供CAF/SIR测试服务，确保您的产品在市场竞争中保持领先。
1.图片展示
CAF/SIR测试系统
2.适用样品
PCB和FPC
3.依据标准
IPC-TM-650 TEST METHODS MANUAL
IEC 61189-5:2006 Test methods for electrical materials, interconnection structures and assemblies - Part 5: Test methods for printed board assemblies
ISO-9455-17 Soft soldering fluxes - Test methods - Part 17:Surface insulation resistance comb test and electrochemical migration test of flux residues
金鉴实验室严格遵循相关标准，确保每一项测试都符合国际规范，为客户提供可靠的测试结果，帮助企业提升产品质量和市场竞争力。
4.测量范围
通道数: 256通道
测试组数:4组(64通道/组)
工作时间: 1～9999小时
偏置电压: -100～+1000VDC
共负极测试(可选):具备
测试电压: 1.0～99.9VDC(0.1V步进)；100V～1000V(1.0V步进)
电压上升阶梯: 50V(〉100V)
测试电压精度: ±0.1V(1.0～99.9VDC)；±1.0V(100～1000VDC)
电阻测量范围: 1×106~1×1014Ω
电阻测试速度: 标准模式3.5秒/通道(典型)；256通道≤10分钟
实时电流监测范围: 0.1μA～500μA
实时电流检测速度: 10次/通道
测试间隔时间: 5分钟～600分钟
测试电压稳定时间: 1秒钟～600秒钟
限流保护电阻: 1MΩ
测试电缆: 特氟纶(≥10*0,200℃)；标配3.0m测试线
UPS保护时间: 30分钟
外形尺寸: 1800×600×1000(mm) (高×宽×深)
设备净重: 约350kg
供电电压: 交流220V±10%，50Hz
在金鉴实验室，我们的测试系统具备广泛的温度测量范围，能够满足不同产品的测试需求，帮助客户在产品开发阶段提前识别潜在问题。
5.检测项目
CAF（导电性阳极丝）
SIR（表面绝缘阻抗）
金鉴实验室作为一家专注于光电半导体失效分析的科研检测机构，在CAF和SIR方面拥有丰富的经验和卓越的技术实力。实验室配备了先进的测试设备和严格的质量控制流程，能够为客户提供高标准的测试服务。
6.应用实例
测试监控界面
金鉴实验室的团队由国家级人才工程入选者和行业资深管理和技术专家组成，他们在光电半导体材料和器件工厂有着丰富的工作经验，能够提供从产品研发设计到质量评估、可靠性验证的一站式解决方案。
