LED芯片失效点分析(Obirch+FIB+SEM) 发布时间:2013-12-22
	
	
 
	
	
 
	
	
 
	
	
 
	
 
- 上一篇: LED芯片横截面解析(FIB+SEM)
 - 下一篇: LED灯珠结构分析(X射线透视机)
 
广东金鉴实验室科技有限公司
专家团队:
1.LED材料、FIB-TEM、可靠性、EBSD 林工 :18814096302(微信同号)
2. 失效分析、可靠性、AEC-Q系列认证、FIB-TEM、近场光学 金鉴刘工:18924213655(微信同号)
3. 可靠性、FIB-TEM、氩离子 刘工:19924302901(微信同号)
邮政编码 :511340
微信订阅号:ledqalab
电子邮箱:sales@gmatg.com
全国服务热线:400-006-6368
 




