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高压蒸煮试验加速测试(HAST) 发布时间:2025-01-26 15:36:32

一、HAST目的

高压蒸煮试验即为高温,高湿,高气压测试,是用高加速的试验方式评价电子产品耐湿热的能力。金鉴实验室可提供高压蒸煮试验服务,应用于电子产品质量评估、失效分析、可靠性测试等。金鉴实验室作为一家提供检测、鉴定、认证和研发服务的第三方检测与分析机构,具备专业的高压蒸煮试验设备和丰富的行业经验,能够为客户提供全面的电子产品质量评估、失效分析和可靠性测试服务,确保产品在极端环境下的性能稳定性。

二、测试范围

温度范围:105~142.9℃

湿度范围:75%~100%RH

压力范围:0.02~0.186Mpa

金鉴实验室的高压蒸煮试验覆盖了广泛的测试范围,能够满足不同电子产品的需求。我们致力于为客户提供精准的测试数据,帮助客户更好地了解其产品在高温高湿环境下的表现,从而提升产品的市场竞争力。

三、测试标准

《半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)》 GB/T 4937.4-2012

《高加速湿热应力试验》JESD22-A110D-2010

《非气密固态表面贴装器件 潮湿/再流焊敏感度分级》IPC/JEDECJ-STD-020D.1-2008

金鉴实验室严格遵循国际和国内相关测试标准,确保每一项测试都符合行业规范。我们的专业团队会根据客户的具体需求,提供定制化的测试方案,帮助客户实现更高的产品可靠性。

四、案例分享

客户委托送测LED灯珠,要求进行高压蒸煮实验,评估灯珠试验后是否存在剥离、胶裂异常在此案例中,金鉴实验室通过高压蒸煮试验,成功为客户提供了LED灯珠的可靠性分析报告,帮助客户及时发现并解决了潜在问题。


样品放入 PCT 试验箱内


  

            测试前                                      72小时高压蒸煮试验后


 

                           测试前                                   96小时高压蒸煮试验后      


金鉴实验室在进行试验时,严格遵循国际国内相关标准。金鉴实验室的技术团队对相关标准进行了深入细致的研究,确保每一个测试环节都精准无误地符合标准要求。在试验设备选择、试验条件设定以及试验结果判定等方面,金鉴实验室均以标准为依据,为客户提供具有权威性和公信力的测试报告。


                                      

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