LED切片分析（扫描电镜） 发布时间：2014-02-15
LED芯片粘结不牢（扫描电镜SEM）
LED芯片粘结错位（扫描电镜SEM）
冷热冲击后，银胶开裂（扫描电镜SEM）
LED引线断裂（扫描电镜SEM）
LED引线开裂（扫描电镜SEM）
LED横截面结构解剖（扫描电镜SEM）
LED虚焊（扫描电镜SEM）
热冲击后LED焊点观察（扫描电镜SEM）
- 上一篇： LED焊球不良品观察(扫描电镜)，SEM
- 下一篇： PMMA光扩散粉颗粒形貌观察和直径测量
联系我们
广东金鉴实验室科技有限公司
专家团队：
1.失效分析、可靠性、AEC-Q系列认证、FIB-TEM、近场光学 金鉴张工：18811843699（微信同号）
2. LED材料、FIB-TEM、可靠性、EBSD刘工：18924212773（微信同号）
3. 可靠性、FIB-TEM、氩离子 林工：18814096302（微信同号）
邮政编码 ：511340
微信订阅号：ledqalab
电子邮箱：sales@gmatg.com
全国服务热线：400-006-6368
