金鉴湖南长沙培训07月12日周四下午：如何通过双85实验+LED芯片失效+汽车头灯逆向解剖+易导致硫化物料集！

培训时间：2018年07月12日  星期四下午：14:30 -17:00

培训地点：长沙福盛源大酒店12楼岳麓厅 （湖南省长沙市岳麓区丰顺路与黄鹤路交汇处  中南大学新校区南门）

主办单位：广东金鉴实验室科技有限公司

讲座内容简介：

1.如何提高光源耐热性

现在很多工程，动则要求过双85实验，也就是都逼迫大家在设计产品时采用了温控器方案导致产品成本增加，例如路灯和亮化产品。有人说: “双85实验，不用温控器，硬扛能过，主要取决于灯珠质量，这个靠谱吗？ 环境温度85度，灯珠焊盘温度估计到了140度，在如此严苛的条件下其它配件比如导热胶水、基板、透镜、锡膏的性能如材料热膨胀系数等，都会有影响吧？”

在本次讲座里，方博士将从支架电镀、注塑胶、封装胶、芯片、固晶胶、PCB板铜箔和导热系数、回流焊、光分布热分布等全方位谈提高光源可靠性的方法。发黑？双85不过？金鉴方博士帮您找真因！

2.如何科学分析LED芯片失效——《LED烧电极，芯片与电源谁是罪魁祸首！》

过去，当出现LED烧电极问题，质量争议最多的是芯片和电源。芯片厂说是电源过流过压导致，照明厂说是芯片质量不合格导致，但责任归属是需要证据的，在金鉴出来之前，业内缺乏LED芯片失效分析的实验室，也就是说，没有一家能够找出芯片质量问题的检测机构。没有科学的检测数据支持，照明厂和电源厂只能吃哑巴亏，造成很多冤案错案。在今年，金鉴实验室引进了千万级的双束聚焦离子束（FIB-SEM）显微镜，发现很多烧电极的案件与芯片关联很大，开创了不少新的芯片级失效分析模型。于此，金鉴实验室方方博士开展此次讲座，旨在分享案例和科普芯片级失效案例的判定方法。

3.汽车头灯逆向解剖——《欧司朗汽车LED灯逆向解剖报告》

本次讲座，金鉴实验室方方博士将分享欧司朗汽车LED灯逆向解剖报告，并与参会者对这份逆向报告展开技术细节的讨论。精彩讲座，请及早报名！

4. 易导致硫化物料集——《容易导致LED硫化的物料有哪些》

在LED行业风光无限的背后，隐藏着LED产业发展的巨大品质风险。目前，无论是外资LED大厂，还是大陆的主要LED厂商，对于LED的硫化问题，都遇到了相同的困扰。光源硫/氯/溴化在LED光源和灯具的生产、存储、老化、使用的每个环节都有可能发生。本次讲座，旨在分享金鉴LED硫化失效分析路线图，帮助客户根据硫/氯/溴化发生的环节选择合适的排硫方案，告知常见的易导致硫化的物料清单，并推出金鉴无硫溴氯鉴定服务，避免硫化质量事件的发生。

客户群体：LED芯片厂

参加培训的企业有：德辰光电、东煦五金、鑫辰光电、华阳光电、光晶电子、仁诚光电、天力新能、晶石远科、德豪润达、英特来光电、德洛斯照明、丽格特光电、光宝光电、新宙邦科技、本田汽车用品、西福晶电科技、源磊科技、木林森、合道电子、福伦德电子。