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高压蒸煮试验(HAST)发布时间:2020-12-10 11:49:51


高压蒸煮试验(HAST)介绍:

高压蒸煮试验即为高温,高湿,高气压测试,是用高加速的试验方式评价电子产品耐湿热的能力。金鉴实验室可提供高压蒸煮试验服务,应用于电子产品质量评估、失效分析、可靠性测试等。


测试范围:

温度范围:105~142.9℃

湿度范围:75%~100%RH

压力范围:0.02~0.186Mpa


参照测试标准:

《半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)》 GB/T 4937.4-2012

《高加速湿热应力试验》JESD22-A110D-2010

《非气密固态表面贴装器件 潮湿/再流焊敏感度分级》IPC/JEDECJ-STD-020D.1-2008


案例分享:

客户委托送测LED灯珠,要求进行高压蒸煮实验,评估灯珠试验后是否存在剥离、胶裂异常。


样品放入 PCT 试验箱内


  

            测试前                                           72小时高压蒸煮试验后


 

           测试前                                          96小时高压蒸煮试验后





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